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ISSN 1001-3806CN 51-1125/TN 网站地图

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特征提取在硅内部微/纳米级体缺陷检测中的应用

陈军, 尤政, 周兆英, 刘兴占

1998, 22(5): 290-294.

关键词: 特征提取, 激光散射扫描层析技术, 微/纳米级体缺陷, 硅

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激光散射理论及其在计量测试中的应用

陈军, 尤政, 周兆英

1996, 20(6): 359-365.

关键词: 散射, 瑞利散射理论, 米氏理论, 测量, 应用

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