磁光盘载噪比测试方法的研究

吴裕斌; 曹丹华; 阮玉

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磁光盘载噪比测试方法的研究

吴裕斌 , 曹丹华 , 阮玉

文章导航 > 激光技术 > 1999 > 23(1): 23-25

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磁光盘载噪比测试方法的研究

1.
华中理工大学光电子工程系, 武汉, 430074

作者简介: 吴裕斌,男,1963年出生。讲师,硕士。从事光电测试和控制方面的研究工作。.

基金项目:
国家“八五”军事电子预研重点项目

An analysis of measurement methods of carrier to noise ratio for magneto-optical disks

1.
Department of Optoelectronics Engineering, HUST, Wuhan, 430074

摘要: 通过深入研究载噪比测试过程,找出了测试中存在的特殊性,根据这种特殊性,提出了一种简单有效的数据采集方法,即单轴等时间采样法.
- 磁光盘 /
- 载噪比 /
- 测试
Abstract: According to definition of narrow signal-noise ratio and analysis of measurement method,it is found that spectrum of the signal and data acquiring have the function with the measurement precision.This paper compared the double axis synchronous data acquiring,single axis identical voltage data acquiring and single axis identical interval data acquiring with each other,and found that the last one can obtain the highest test precision.
- magneto-optical disks /
- carrier to noise ratio /
- measurement

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