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ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

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用正电子湮没寿命谱学法研究BBO单晶缺陷

史子康 林翔 唐鼎元

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用正电子湮没寿命谱学法研究BBO单晶缺陷

    作者简介: 唐鼎元,男,1951年出生.副研究员.现从事晶体生长研究工作;林翔,女,1969年出生.实习研究员.现从事晶体生长及缺陷研究.;唐鼎元,男,1951年出生.副研究员.现从事晶体生长研究工作;林翔,女,1969年出生.实习研究员.现从事晶体生长及缺陷研究..

The research for defects of the BBO crystal by means of the positron annihilation lifetime spectroscopt

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出版历程
  • 收稿日期:  1990-12-04
  • 录用日期:  1991-04-05
  • 刊出日期:  1991-11-25

用正电子湮没寿命谱学法研究BBO单晶缺陷

    作者简介: 唐鼎元,男,1951年出生.副研究员.现从事晶体生长研究工作;林翔,女,1969年出生.实习研究员.现从事晶体生长及缺陷研究.;唐鼎元,男,1951年出生.副研究员.现从事晶体生长研究工作;林翔,女,1969年出生.实习研究员.现从事晶体生长及缺陷研究.
  • 1. 中国科学院福建物质结构研究所 福州

摘要: 低温相偏硼酸钡(BBO)单晶是一种新型的非线性光学晶体.本文用正电子湮没寿命谱学法首次研究了它的缺陷,分析了它的缺陷类型及其成因.为克服缺陷、生长高质量的晶体提供科学依据.

English Abstract

参考文献 (8)

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