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比色测温法是通过测量物体(非黑体)在两个不同波长下辐射能量的比值,经校正后反推被测物体的温度。其理论基础来源于普朗克(Planck)黑体辐射定律,Planck黑体辐射定律描述了黑体辐射与温度、波长之间的关系,即:
式中,λ为波长,C1为普朗克第一辐射常数,C1= 3.741833×1016W·m2,C2为普朗克第二辐射常数,C2= 1.438832×10-2m·K,M(λ, ε)表示黑体的辐射出射度。金属熔池被视作灰体,与同温度下的黑体辐射能量的比值为ε(λ, T),即为辐射率。当辐射波长λ < 800nm且温度低于3000K范围内,普朗克黑体辐射定律可由维恩定律代替[20], 以R与G色度为例,得出基于彩色CCD的比色测温公式为:
式中,T为待测熔池的热力学温度;C2为普朗克第二辐射常数;红色窄带滤光片中心波长λr=650nm,绿色窄带滤光片中心波长λg=532nm;Lr, g=Gr/Gg,表示数字图像中R, G灰度比;kr/kg与系统的辐射衰减、测量距离和CCD参量有关, 为待标定参量;黑体辐射能量比值ε(λ, T)表征灰体随λ及T变化发射或吸收能量的性能[21]。
利用彩色CCD的比色测温公式进行温度测量计算时,为了减小测温误差,往往选择在镜头前加载RGB单色窄带滤光片和中性衰减片,选取的窄带滤光片中心波长λr=650nm,λg=532nm, 带宽均为10nm, 中性衰减片衰减系数为1%, 使得入射光以窄带波的形式进入CCD相机,CCD相机更接近于理想的冲击响应函数。
令:
简化为:
简化后的比色测温公式将辐射率ε(λ, T)的变化纳入待定系数K,K由红外测温仪标定得到(如图 3所示),ε对结果的影响可忽略不计。通过运用最小二乘法拟合K与Lr, g的函数关系(如图 4所示),从而确定熔池温度T与Lr, g的函数关系。
对采集到的熔池图片进行图像处理,图 5a~图 5d依次为熔池原图和经过灰度化、均值滤波以及二值化阈值分割后的图片。对分割后的区域提取最大灰度值作为比色测温公式中的R灰度。由表 1可见,当温度达到1800℃时,R灰度值已经接近灰度值上限255, 趋于饱和,因此本例中的测温范围为1300℃~1800℃。若要进一步扩大测温范围,需要在镜头前加载更高效率的衰减片和调整曝光时间,调整光圈进一步减少进光量来实现。如图 4所示,K与Lr, g呈良好的线性关系,运用最小二乘法拟合灰度比值Lr, g与待定系数K的3次多项式,给出对应关系式:
R gray value G gray value gradation ratio calibration temperature/℃ 73 67 1.1 1300 98 70 1.4 1400 122 72 1.7 1500 159 75 2.1 1600 201 77 2.6 1700 254 81 3.1 1800 Table 1. Relationship between gray value and temperature
可得熔池温度的计算公式为:
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中空环形激光的能量密度公式为[22]:
式中,E为激光能量密度,P为激光功率,D为环形光斑外圆直径,v为扫描速率。可知,激光能量密度E与激光功率P成正比,与光斑外圆直径D、扫描速率v成反比。
设计单道熔覆基础实验,实验在基体上进行,熔覆单道长度为50mm,离焦量为-3mm,扫描速率为6mm/s。在不同激光功率作用下,探究熔池温度与激光功率的动态关系,工控机软件记录了单道熔覆过程中的熔池温度变化情况。以采集到的数据编号为横轴,熔池温度为纵轴,得到不同功率下的熔池温度曲线(如图 6所示)。
由图 6可见,单一功率作用下的熔覆层各点散热状况不同,温度呈现动态变化,且没有体现出良好的规律性。但结合表 2中的数据发现,当激光功率从400W变化到800W,整个熔覆层的温度均值Ta从1221.9℃递增到1531.6℃,最大值Tmax从1562.3℃递增到1836.4℃,体现出良好的线性关系,Tmin为温度最小值。因此,基于多个离散点求温度均值作为改变激光功率的依据来控制熔池温度具有一定的可行性,可尝试使用PID方法控制熔池温度。
laser power/W Ta/℃ Tmax/℃ Tmin/℃ dT/℃ 400 1221.9 1562.3 858.1 704.2 600 1358.1 1747.9 1093.2 654.7 800 1531.6 1836.4 958.3 878.1 Table 2. Statistical results based on Fig. 6
设计PID控制器,进行激光功率-熔池温度的单输入控制实验。设Ts为设定温度,Ta为当前熔覆过程中多个采样点温度的平均值。以层为周期进行反馈控制,k为当前熔覆层号,则第k层实际温度与设定温度的误差e(k)为:
在实际堆高过程中,通过每层修正激光功率来使实际温度Ta趋近于Ts,每层需要的功率变化量ΔP可以表达为PID算法的差分方程:
式中,Kp为比例增益,Ki为积分增益,Kd为微分增益。比例项用于修正激光功率P(k),Kp一般取负值,该实验选取的比例系数为-0.0001。积分项用于消除系统累积误差,使每层熔覆堆积的Ta逐渐逼近期望值Ts。微分项用于累计误差变大之前引入一个修正信号,减少算法的调节时间。当Ta < Ts时,下一层激光功率增大,温度升高;反之,激光功率减小,温度降低。整个熔覆过程中,激光功率的PID控制算法表达式为:
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采用Fe313粉末分别堆积了直径45mm的圆筒,最终成形实体如图 7所示。其中图 7a未加入温度控制,图 7b加入温度控制。相同的工艺参量设定为:离焦量-3.5mm,扫描速率6mm/s,送粉速率8g/min,激光功率920W, 逐层向上堆积。在多层熔覆过程中,图 7b设定温度1700℃,软件记录其熔池平均温度与激光功率随熔覆层变化的曲线,如图 8所示。堆积初期,由于基体没有经过预热其温度为室温。为了改善熔覆层与基体之间的冶金结合质量,防止后期开裂,采用相对较高的激光功率920W。可以看到,前15层熔覆层平均温度逐层稳定上升,这是因为随着堆积层数的增加,熔池的散热方式由初期的3维散热变为2维散热,熔池热量不断累积,直至实际温度Tm达到1700℃。从第16层熔覆层开始,开启PID控制器,由于Tm始终大于1700℃,激光功率逐层降低,每层大约降低10W~ 20W。27层左右开始出现Tm小于设定值Ts,接下来两层的激光功率略微有所增加,直至30层左右熔覆层温度基本保持稳定,达到热平衡状态,激光功率也基本不再变化,稳定在700W左右。热平衡状态下的激光功率相较于初始的激光功率下降220W左右。实验结果表明,在不同工艺条件作用下,多层熔覆成形达到热平衡所需要的层数不同且与控制器算法的比例系数有关。采用温度控制的3维堆积成形件与没有采用温度控制3维堆积成形件相比,完全没有出现熔道截面变宽的情况,熔覆层宽度上下相对均匀,成形件表面粗糙度明显降低,无明显的粉末粘附,无过熔、欠熔现象发生。
Figure 8. Relationship between average molten pool temperature, laser power and the number of cladding layers
通过表 3中的数据分析发现,未采用温度控制的成形件在24.8mm的高度距离上,底部与顶部外径相差2.8mm。而采用温度控制的成形件在41.0mm的高度距离上,底部与顶部外径仅仅相差0.9mm。后者的效果明显优于前者。实验表明, 该方案在消除熔池温度热累积效应上取得了良好效果,成形件尺寸精度明显提高。
parameter without controller with controller height/mm 24.8 41.0 bottom diameter/mm 35.7 45.5 top outer diameter/mm 38.5 44.6 middle diameter/mm 38.1 45.1 Table 3. Parameters comparison of the formed parts with controller and without controller
在图 7b所示圆筒成形件中沿箭头方向切开,取A, B, C 3个位置制备金相试样,并对试样进行打磨、抛光和腐蚀处理。在徕卡DM-IRM型金相显微镜下进行观察,A, B, C 3个位置得到的结果分别如图 9a、图 9b、图 9c所示。图 9a为成形件与基板结合区,金属粉末快速凝固快速冷却,晶粒垂直基板生长,最终形成树枝晶组织。图 9b对应圆筒中部组织,热量累积多,形成的组织较为粗大、疏松。图 9c为圆筒顶部组织,树枝晶生长方向有所不同,晶粒尺寸在10μm~20μm范围内,属于细晶组织。成形件整体无明显气孔、裂纹等缺陷,组织致密,具有良好的冶金质量。
Figure 9. Scanning electron microscope images marked A, B, C in Fig. 7b