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光子晶体缺陷模的偏振特性研究

金铱 黄正逸 陈宪锋 唐丽 是度芳

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光子晶体缺陷模的偏振特性研究

    作者简介: 金铱(1965- ),男,讲师,主要从事物理教学和光学材料方面的研究.E-mail:jin-y@163.com.
  • 中图分类号: O734

Study on polarization properties of the photonic crystal defect mode

  • CLC number: O734

  • 摘要: 为了了解光波在一维光子晶体的传输特性,利用传输矩阵方法进行了数值模拟,并研究了缺陷层厚度对缺陷模偏振特性的影响.结果表明,入射角的变化对光子晶体的禁带及缺陷模影响较大,它们都随入射角的增大向高频(短波)方向移动,s偏振的禁带宽度逐渐增宽而p偏振的禁带宽度变化不明显,p偏振的缺陷模频移较s偏振的稍大.随着入射角的增大,s偏振的缺陷模越来越细、品质因子逐渐增大,而p偏振的缺陷模变化趋势则刚好相反.
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出版历程
  • 收稿日期:  2006-04-05
  • 录用日期:  2006-05-29
  • 刊出日期:  2007-06-25

光子晶体缺陷模的偏振特性研究

    作者简介: 金铱(1965- ),男,讲师,主要从事物理教学和光学材料方面的研究.E-mail:jin-y@163.com
  • 1. 江苏工业学院, 信息科学系, 常州, 213016;
  • 2. 华中科技大学, 物理系, 武汉, 430074

摘要: 为了了解光波在一维光子晶体的传输特性,利用传输矩阵方法进行了数值模拟,并研究了缺陷层厚度对缺陷模偏振特性的影响.结果表明,入射角的变化对光子晶体的禁带及缺陷模影响较大,它们都随入射角的增大向高频(短波)方向移动,s偏振的禁带宽度逐渐增宽而p偏振的禁带宽度变化不明显,p偏振的缺陷模频移较s偏振的稍大.随着入射角的增大,s偏振的缺陷模越来越细、品质因子逐渐增大,而p偏振的缺陷模变化趋势则刚好相反.

English Abstract

参考文献 (16)

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