半导体激光器光束特性的计算机模拟与实验研究

甘巧强; 朱晓鹏; 潘学俭; 邓捷; 宋国锋; 陈良惠

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半导体激光器光束特性的计算机模拟与实验研究

甘巧强 , 朱晓鹏 , 潘学俭 , 邓捷 , 宋国锋 , 陈良惠

文章导航 > 激光技术 > 2004 > 28(3): 298-302

引用本文:

Citation:

半导体激光器光束特性的计算机模拟与实验研究

1.
复旦大学, 材料科学系, 上海, 200433;
2.
中国科学院, 半导体研究所, 光电子器件国家工程研究中心, 北京, 100083;
3.
南京大学, 计算机科学系, 南京, 210093

作者简介: 甘巧强(1980- ),男,硕士研究生,目前主要从事半导体激光器光学参数的测量与研究工作,E-mail:9930032@Fudan.edu.cn.

基金项目:
国家八六三计划资助项目(2002AA313060)
中图分类号: TN248.4

Computer simulation and experiment research about optical beam characteristics of semiconductor laser

1.
Department of Material, Fudan University, Shanghai 200433, China;
2.
National Engineering Research Center for Optoelectronic Devices, Institute of Semiconductors, the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China;
3.
Department of Computer Science, Nanjing University, Nanjing 210093, China
CLC number: TN248.4

摘要: 为建立一套快速、准确的测量系统以适用于半导体激光器中、大规模生产的测试要求,利用有限元差分数值模拟方法对半导体激光器光束的近、远场分布,发散角等作理论模拟,利用测量系统对其光束的近远场分布、发散角等进行测量。最后提出相应方案处理测量结果以减小误差。与一般测量光束参数的系统相比,该测量系统具有兼顾简单快速与准确的优点。
- 半导体激光器 /
- 光束质量 /
- 远场分布 /
- 发散角
Abstract: The goal of this article is to present a measuring system which is fast and simple to be applied for the middle or large scale production of semiconductor lasers.The simulation is performed to the near field pattern,far field pattern and divergence angle etc.of the semiconductor laser with the finite difference analysis.A measuring system is built to measure the characteristics.Finally,the experimental system error is analyzed,and an approach to cut down the error is presented.Compared with other methods,this measuring system is simple,fast and precise.
- semiconductor laser /
- optical beam quality /
- far field pattern /
- divergence angle

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半导体激光器光束特性的计算机模拟与实验研究

作者简介: 甘巧强(1980- ),男,硕士研究生,目前主要从事半导体激光器光学参数的测量与研究工作,E-mail:9930032@Fudan.edu.cn

1. 复旦大学, 材料科学系, 上海, 200433;
2. 中国科学院, 半导体研究所, 光电子器件国家工程研究中心, 北京, 100083;
3. 南京大学, 计算机科学系, 南京, 210093

收稿日期: 2003-07-07
录用日期: 2003-08-22
网络出版日期: 2004-05-25

基金项目: 国家八六三计划资助项目(2002AA313060)

关键词:

摘要: 为建立一套快速、准确的测量系统以适用于半导体激光器中、大规模生产的测试要求,利用有限元差分数值模拟方法对半导体激光器光束的近、远场分布,发散角等作理论模拟,利用测量系统对其光束的近远场分布、发散角等进行测量。最后提出相应方案处理测量结果以减小误差。与一般测量光束参数的系统相比,该测量系统具有兼顾简单快速与准确的优点。