半导体激光器加速寿命测试系统研制

亢俊健; 张世英; 苏美开; 王大成

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ISSN 1001-3806CN 51-1125/TN 网站地图

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半导体激光器加速寿命测试系统研制

亢俊健 , 张世英 , 苏美开 , 王大成

文章导航 > 激光技术 > 2004 > 28(3): 228-230,254

引用本文:

Citation:

半导体激光器加速寿命测试系统研制

1.
石家庄经济学院, 光电技术研究所, 石家庄, 050031;
2.
西安武警工程学院, 通信系, 西安, 710086;
3.
北京理工大学, 光电工程系, 北京, 100081;
4.
交通部, 水运科学研究所, 北京, 100088

作者简介: 亢俊健(1960- ),男,副教授,博士,主要从事智能及LD参数测试仪器等方向的研究,E-mail:kangjj@sjzne.edu.cn.

中图分类号: TN248.4

Development for semiconductor laser accelerating lifetime testing system

1.
Institute of Opto-electronic, Shijiazhuang University of Economics, Shijiazhuang 050031, China;
2.
Department of Communication, Xi'an Engineering College of Armed Police Force, Xi'an 710086, China;
3.
Department of Opto-electronic Engineering, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China;
4.
Institute of Waterborne Transportation, Ministry of Communications, Beijing 100088, China
CLC number: TN248.4

摘要: 介绍了半导体激光器(LD)加速寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD寿命测试系统。该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制出LD的老化曲线,即恒功条件下的“I-t曲线”,然后推断LD的使用寿命。
- 激光与光电子学 /
- 半导体激光器 /
- 加速寿命测试 /
- Arrhenius模型
Abstract: This paper introduces the theory of laser diode(LD)accelerating lifetime testing and mathematic model of life testing,based on wihich a new type of LDs burn-in & automatic life testing system was developed.It continuously samples the power of LDs which works under automatic current control and under the airproof condition filled with nitrogen at testing temperature,plots power-time curve of LD and deduces the working life of LD.
- laser and optoelectronics /
- semiconductor laser /
- accelerating lifetime testing /
- Arrhenius model

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