干涉法测量晶体的折射率

郝殿中; 吴福全; 孔伟金

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干涉法测量晶体的折射率

郝殿中 , 吴福全 , 孔伟金

文章导航 > 激光技术 > 2003 > 27(5): 407-408

引用本文:

Citation:

干涉法测量晶体的折射率

1.
曲阜师范大学激光研究所, 曲阜, 273165

作者简介: 郝殿中,男,1963年11月出生.工学学士,讲师.主要从事薄膜光学及光电测试方面的研究工作..

中图分类号: O432.2

Measurement of refractive index of crystals with interferometry

1.
Institute of Laser Research, Qufu Normal University, Qufu, 273165
CLC number: O432.2

摘要: 基于迈克尔逊干涉仪的原理,提出了一种测量晶体折射率的理论及实验方法;在旋转角度不大的情况下,推导出了理论计算公式。利用CCD传感器和微处理器的结合建立了一套测试系统,该系统利用条纹评估软件提高了测试精度。
- 折射率 /
- 干涉 /
- CCD /
- 晶体
Abstract: Based on the theory of Michelson's interferometer,a new method is used to measure the index of crystals.The theoretical formula is obtained under the condition that the rotating angle is small.Combined with CCD and microprocessor,the measurement precision is improved a lot.
- refractive index /
- interference /
- CCD /
- crystal

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