石英晶体光轴方向厚度的光学测量研究

封太忠; 吴福全; 李国华

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石英晶体光轴方向厚度的光学测量研究

封太忠 , 吴福全 , 李国华

文章导航 > 激光技术 > 2003 > 27(2): 124-125

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Citation:

石英晶体光轴方向厚度的光学测量研究

1.
曲阜师范大学激光研究所, 曲阜, 273165

作者简介: 封太忠,男,1971年11月出生.助理实验师.现从事激光偏光技术的研究..

中图分类号: O436.3

Optical measurement of the thickness along the quartz crystal axis

1.
Laser Institute, Qufu Normal University, Qufu, 273165
CLC number: O436.3

摘要: 给出了一种精确测量石英晶体光轴方向厚度的光学测量方法,其测量精度可以达到0.002mm。
- 旋光率 /
- 石英晶体 /
- 旋光特性
Abstract: In the paper,an accurate optical method to meausure thickness along the quartz optical axis is put forward,with which the measurement accuracy can get up to 0.002mm.
- optical rotating ration /
- quartz crystal /
- optical rotating c haracteristic

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