高级检索

ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

光波强衰场悬浮颗粒检测中的显微摄像术

王晓 刘小青

引用本文:
Citation:

光波强衰场悬浮颗粒检测中的显微摄像术

    作者简介: 王晓,男,1971年11月出生。硕士,博士研究生。从事光电子技术学习和研究。.

Application of image pick up microscopy for measurement of passive disturbing materials in photoelectric countermeasure

计量
  • 文章访问数:  3243
  • HTML全文浏览量:  675
  • PDF下载量:  336
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1996-10-26
  • 刊出日期:  1998-03-25

光波强衰场悬浮颗粒检测中的显微摄像术

    作者简介: 王晓,男,1971年11月出生。硕士,博士研究生。从事光电子技术学习和研究。
  • 1. 国防科技大学204教研室, 长沙, 410073

摘要: 被烟尘、粉末、水雾等充斥的空间对光波有极强的衰减作用,统称为强衰场。普通的摄像技术不可能从此类强衰场中获取清晰的图像。融合了显微光学原理和CCD摄像技术的显微摄像术与相应的技术手段配合,可以摄取强衰场中悬浮颗粒的放大图像,并实现远距离传输和多用户监测,从而为强衰场悬浮颗粒检测实践了一条新思路。

English Abstract

参考文献 (1)

目录

    /

    返回文章
    返回