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一种无触点快速测量表面粗糙度的方法

李田泽 张静华

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一种无触点快速测量表面粗糙度的方法

    作者简介: 李田泽,男,1962年12月出生.硕士,副教授.现主要从事无损光电检测,激光技术等方面的研究工作..

A new method for noncontact rapid measurement of surface roughness

  • 摘要: 提出一种使用激光束快速测量表面粗糙度的无触点光学方法。一束照射在样品表面的激光束随着表面粗糙度的增大反射光的密度分布将被扩展,可用PCD测出从铝制样品表面反射光的密度分布。被反射光的密度曲线可通过高斯函数近似地求出。密度分布曲线的宽度由高斯曲线系数的标准差计算出来,此标准差近似等于密度曲线的高斯函数的标准差,密度曲线的中线平均粗糙度随着高斯曲线系数的增加而增加。粗糙度Ra在0.1~0.5μm的范围内,可利用实验公式Ra=0.088GCP+0.032通过测量GCP得到。
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出版历程
  • 收稿日期:  1996-10-28
  • 录用日期:  1997-04-19
  • 刊出日期:  1998-07-25

一种无触点快速测量表面粗糙度的方法

    作者简介: 李田泽,男,1962年12月出生.硕士,副教授.现主要从事无损光电检测,激光技术等方面的研究工作.
  • 1. 山东工程学院, 淄博, 255012;
  • 2. 山东淄博师专, 淄博, 255013

摘要: 提出一种使用激光束快速测量表面粗糙度的无触点光学方法。一束照射在样品表面的激光束随着表面粗糙度的增大反射光的密度分布将被扩展,可用PCD测出从铝制样品表面反射光的密度分布。被反射光的密度曲线可通过高斯函数近似地求出。密度分布曲线的宽度由高斯曲线系数的标准差计算出来,此标准差近似等于密度曲线的高斯函数的标准差,密度曲线的中线平均粗糙度随着高斯曲线系数的增加而增加。粗糙度Ra在0.1~0.5μm的范围内,可利用实验公式Ra=0.088GCP+0.032通过测量GCP得到。

English Abstract

参考文献 (7)

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