相交圆聚光腔的分区聚光效率

相交圆聚光腔的分区聚光效率

李家伟, 王英, 吴昌军, 陈义红

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李家伟, 王英, 吴昌军, 陈义红. 相交圆聚光腔的分区聚光效率[J]. 激光技术, 1996, 20(3): 133-137.

引用本文:

李家伟, 王英, 吴昌军, 陈义红. 相交圆聚光腔的分区聚光效率[J]. 激光技术, 1996, 20(3): 133-137.

Li Jiawei, Wang Ying, Chen Yihong, Wu Chagjun. Portional coupling efficiencies in intersecting circular cavities[J]. LASER TECHNOLOGY, 1996, 20(3): 133-137.

Citation:

Li Jiawei, Wang Ying, Chen Yihong, Wu Chagjun. Portional coupling efficiencies in intersecting circular cavities[J]. LASER TECHNOLOGY, 1996, 20(3): 133-137.

相交圆聚光腔的分区聚光效率

1.
华中理工大学, 激光研究所, 武汉, 430074;
2.
南洋理工大学, 精迪制造技术研究院, 新加坡, 2262

详细信息

作者简介:
李家伟(附照片),男,1938年出生。副教授。长期从事激光物理教学和固体激光器研究工作;王英,女,1964年出生。工程师。从事固体激光电源教学及固体及激光器应用研究；陈义红,男,1962年出生。副教授,硕士。现在南洋理工大学读在职博士,从事激光应用研究工作。

李家伟(附照片),男,1938年出生。副教授。长期从事激光物理教学和固体激光器研究工作;王英,女,1964年出生。工程师。从事固体激光电源教学及固体及激光器应用研究；陈义红,男,1962年出生。副教授,硕士。现在南洋理工大学读在职博士,从事激光应用研究工作。

李家伟(附照片),男,1938年出生。副教授。长期从事激光物理教学和固体激光器研究工作;王英,女,1964年出生。工程师。从事固体激光电源教学及固体及激光器应用研究；陈义红,男,1962年出生。副教授,硕士。现在南洋理工大学读在职博士,从事激光应用研究工作。

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出版历程
- 收稿日期: 1995-08-26
- 发布日期: 1996-05-24

Portional coupling efficiencies in intersecting circular cavities

1.
Institute of Laser, HUST, Wuhan 430074, P.R.China;
2.
Gintic institute of Manufacturing Technology, Nanyang Technological University, Singapore 2263

摘要: 研究了相交圆聚光腔中各反光部位对聚光的贡献,理论计算结果和实测数据基本相符,分析了提高聚光效率的途径。
- 聚光腔 /
- 聚光效率 /
- 相交回聚光腔
Abstract: In this Paper the contributions on the coupling efficiency form the various portions of intersecting circular pump eavity was investigated and the approaches to increase the coupling efficiency also was given. Theoretical calculations of the efficiencies of pump cavities are agreeable with experimental results.
- pump cavity /
- coupling efficiency /
- intersecting circular cavity

参考文献(6)

[1]	Koechner Walter.Solid-state Laser Engineering.New York:Springer-Verlag,1976.
[1]	Evtuhov V,Neeland J K.Appl Opt,1967;6:437.
[2]	Camm D M.Appl Opt.1984;23:601.
[3]	Janeyski Z D,Pantelic D.SPIE,1990;1319:45.
[4]	Evaldsoon P A,Taylor G W,Cooke P W et a1.IEEE Photonics Technology Letters,1993;5:634.
[5]	Bebic D I,Chung Y,Dagli N et al.IEEE J Q E.1993;29:1950.

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