TW-SLA AR膜剩余反射率实时监控新方法

黄菊仙; 刘德明; 黄德修

高级检索

ISSN 1001-3806CN 51-1125/TN 网站地图

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

TW-SLA AR膜剩余反射率实时监控新方法

黄菊仙 , 刘德明 , 黄德修

文章导航 > 激光技术 > 1992 > 16(2): 76-80

引用本文:

Citation:

TW-SLA AR膜剩余反射率实时监控新方法

1.
华中理工大学光学系武汉
基金项目:
国家“863”计划资助项目

A new method of monitoring the in-situ residual reflectivity of antireflection coating

1.
Huazhong University of Science and Technology

摘要: 介绍一种实时监控行波半导体激光放大器(TW-SLA)抗反膜(AR)超低剩余反射率的新方法。从理论和实验上分析了剩余反射率与SLA的输出光功率关系及温度对其输出功率的影响。在1.3μm InGaAsP/InP掩埋异质结(BH)激光二极管(LD)上镀单层SiOx或SiOx1/SiOx2膜获得了低于5×10-4的超低反射率。
Abstract: A new method of monitoring the in-situ extremely low residual reflectivity of antireflection (AR) coating of travelling-wave semiconductor laser amplifier (TW-SLA) is presented. The relations among the residual reflectivity, temperature and the output power of SLA are analyzed theoretically and experimentally. Minimum reflectivity less than 5×10-4 can be realized by means of using a 1.3μm InGaAsP/InP buried-hetero-structure (BH) laser diode coated with single-layer SiOx or double-lager SiOx1/SiOx2 film.

[1]	Mukai T,Yamamtot Y, Optical direct amplification for fibre transmission.Rev Elect Common Lab, 1983f 3 (3):340-348
[2]	Simon J C, Semiconductor laser amplifier for single-mode optical fibre communication, J Opt Common,1983s 4 (2):51-56
[3]	O'Mahony M J, Marshall I W. An opticl repeater using a semicon-doctor laser amplifier, 3rd Int Conference on Telecommunication Tranamission.London; 1985: 159-161
[4]	Weatlake H J, Adams M J, O'Mahony M J.Optical bistability measurements on a 1.5μm semiconductor laser amplifier, CLEO'85,Baltimore; 1985
[5]	Kressel H, Butler J K. Semiconductor lasers and heterojunction LEDs, 1977
[6]	Kaminow I P, Eisenetein G,Stulz L W. Measurements of the model reflectivity of an antireflection coating on a super-luminesent diode, IEEE J Q E,1983s QE-19: 493
[7]	黄德修.半导体光电子学.成都:电子科技大学出版社,1989

[1]	罗定威 . 测量激光膜层反射率的仪器和方法. 激光技术, 1984, 8(2): 7-11.
[2]	田丰贵 . 光学玻璃内透过率测试新方法. 激光技术, 2003, 27(3): 197-198.
[3]	高峨摘译 , 张承铨校 . 合成光学膜系的一种新方法(摘译). 激光技术, 1984, 8(6): 26-30.
[4]	倪晓武 , 陆建 , 张放 , 马孜 . 激光对非λ/4膜系变反射率薄膜的损伤机理. 激光技术, 1998, 22(5): 268-270.
[5]	吴鹏 , 范云茹 , 郭嘉伟 , 刘晓旭 , 周强 , 邓光伟 , 宋海智 , 王浟 . 纳秒脉冲激光加工高反射率铝膜. 激光技术, 2019, 43(6): 779-783. doi: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2019.06.009
[6]	严嵋 . 金膜的镀制及其反射率的测量. 激光技术, 1981, 5(4): 49-51.
[7]	何兆麟 . 分析双层增透膜零反射点的一种新方法. 激光技术, 1983, 7(4): 22-27,35.
[8]	王亚伟 . 一种激光散斑法实时测量表面粗糙度的新方法. 激光技术, 1993, 17(3): 150-153.
[9]	蔡永鑫 . 相位激光测距的新方法. 激光技术, 1984, 8(5): 55-60.
[10]	王润轩 . 一种变折射率光学系统光线追迹的新方法. 激光技术, 2004, 28(6): 664-666.
[11]	李正义 , 李跃进 . 玻珠反射幕在激光射击模拟器中的应用和大幅度提高反射性能的新方法. 激光技术, 1982, 6(3): 68-69.
[12]	张敬斌 , 胡欢陵 , 周军 , 许军 . 激光雷达定标的新方法研究. 激光技术, 1994, 18(1): 34-37.
[13]	吕海宝 . 一种衍射测量新方法的研究. 激光技术, 1989, 13(2): 7-11.
[14]	李永斌 , 张昌兵 . 飞行目标3维姿态测量的新方法. 激光技术, 2003, 27(3): 185-189.
[15]	贺敏波 , 江厚满 . 一种降低渐变折射率反射膜表面电场的方法. 激光技术, 2012, 36(3): 312-314,329.
[16]	李大义 , 陈建国 , 周小红 , 卢玉村 . 图形分析法求半导体激光器端面减反膜的有效反射率. 激光技术, 1998, 22(5): 257-261.
[17]	易亨瑜 , 吕百达 . 反射率测量技术研究的进展. 激光技术, 2004, 28(5): 459-462.
[18]	鲁建存 . 起爆药的激光反射率. 激光技术, 1987, 11(1): 51-54.
[19]	金清理 . 获取大范围均匀散射狭缝光场的新方法. 激光技术, 2000, 24(2): 128-130.
[20]	谢小平 , 赵尚弘 , 夏贵进 , 占胜宝 , 郭超平 , 刘涛 . 研究飞秒光孤子光冲击现象的一种新方法. 激光技术, 2002, 26(5): 357-358,363.

点击查看大图

计量

文章访问数: 3350
HTML全文浏览量: 963
PDF下载量: 367
被引次数: 0

TW-SLA AR膜剩余反射率实时监控新方法

1. 华中理工大学光学系武汉

收稿日期: 1991-08-13
网络出版日期: 1992-03-25

基金项目: 国家“863”计划资助项目

摘要: 介绍一种实时监控行波半导体激光放大器(TW-SLA)抗反膜(AR)超低剩余反射率的新方法。从理论和实验上分析了剩余反射率与SLA的输出光功率关系及温度对其输出功率的影响。在1.3μm InGaAsP/InP掩埋异质结(BH)激光二极管(LD)上镀单层SiOx或SiOx1/SiOx2膜获得了低于5×10-4的超低反射率。