[1] 陈本智,陈兴语.计量学报,1995;(3):221～225
[2] 李承志.激光技术,1994;(5):303～305
[3] 张从周,刘兰昊,李承志.长春光机学院学报,1997;(4):31～35
[4] Fotowicz P,Jablonski R.SPIE,Laser Technology Ⅱ,1987;859:245～248
[5] Reich F R.SPIE Advance in Laser Engineerings,1977;122:22～29
[6] 邾继贵,叶声华,陶国智.光电工程,1996;(3):59～63
[7] 房晓勇,任克勤,曹茂盛.激光杂志,1996;(1):25～28
[8] 郭强,白贵儒.光学仪器,1997;(4～5):93～97
[9] 林棋榕,谢树森,周川钊 et al.光学精密工程,1997;(2):109～114
[10] 陈岳林.计量与测试技术,1998;(3):25～28
[11] Mainsah E,WonG C M G,Stout K J.SPIE,Measurement Technoloby and Intelligent Instruments,1993;2101:381～395
[12] Meggitt B T.Optic Technology,1989;21(5):343～344
[13] 吕海宝,谌廷政,周卫红 et al.激光杂志,1998;(3):14～17
[14] 梁铨廷.物理光学.北京:机械工业出版社,1980:342～346