HTML
-
作者根据图 1所示的线性激光三角测距模型,设计了一套圆柱对象定位点测量实验系统。该系统主要由线性激光器、CMOS工业相机、工业镜头、测量支架与可调螺纹立杆等组成。系统结构示意图如图 3所示。CMOS工业相机与工业镜头以竖直向下方向固定于测量支架正中央;线性激光器以与竖直方向成角度θ1安置在测量支架一侧;测量支架可依据可调螺纹立杆上的竖直高度刻度线上下移动以协助测量。测量支架正下方水平放置着若干不同直径的圆柱对象。
-
根据(6)式与(7)式可知,计算圆柱对象定位点位置坐标(X, Z),需先提取图像中圆柱对象顶点光斑(亦为圆柱对象反射激光光斑顶点)像素坐标(x1, y1)。其计算效果会影响(X, Z)测量的精度。因此需先对图像进行预处理,以提高(x1, y1)的提取精度。
-
实验系统中相机拍摄的原始图像如图 4所示。共有3根直径分别为116.7mm, 123.6mm与123.8mm的圆柱对象反射的激光光斑处于相机视场内。由于图像中激光光斑灰度不均匀,有少许断裂现象,且存在不少由环境光产生的噪音光斑不利于(x1, y1)提取。所以需对图像先进行预处理。主要的预处理算法有阈值处理算法,形态学处理算法与面积滤波算法。如图 5所示,经过预处理后的图像无断裂光斑且环境光产生的噪音光斑均被消除,适合激光光斑顶点像素坐标(x1, y1)的提取。
-
原始图像经过预处理后,即可对(x1, y1)进行提取。本文中选择的光斑顶点提取算法为颗粒分析法(blob analysis)。颗粒度分析是对图像中相同像素的连通区域进行分析[18-19]。blob分析工具可以分离图像的前景和背景,并给出任何前景形状的形态参量。在处理过程中,其分析对象并非单个像素,而是blob块。与基于像素的算法相比,blob处理速度更快。它可为机器视觉应用提供图像中的斑点的数量、位置、面积、周长、形状和方向,还可以提供相关斑点间的拓扑结构[20]。
根据图 5可知,圆柱对象曲面反射激光光斑均呈凸形圆弧状且每个光斑均对应一个blob。因此可根据光斑的blob周长与形状信息筛选出顶点位于相机视场内的激光光斑。且激光光斑顶点像素纵坐标y1即为blob上边缘像素纵坐标。像素横坐标x1即为blob中第1个像素点横坐标。激光光斑顶点提取位置为如图 6所示的方框中心。
-
本次实验系统标定的目的是实现圆柱对象像素坐标(x1, y1)与现实中位置坐标(X, Z)转换。根据第1节可知(x1, y1)与(X, Z)间的关系式(6)式与(7)式中存在诸多难以测量的固定参量。为解决上述问题,在2.1节中所述的实验系统中采集多组像素坐标与场景点坐标,并在MATLAB中选用最小二乘法拟合出(6)式与(7)式中的相关参量实现系统标定。
-
竖直高度标定的目的是为获取y1与Z间的关系式(6)式。根据第1节可知,要获取(6)式, 需先计算y1与Z′间的关系式(3)式。为方便计算,本文中将(3)式中相关参量进行合并使其简化为(8)式,并使用如图 7所示的棋盘格标定板来进行竖直高度标定。标定板水平横向共有9小格,纵向共有12小格,每小格边长为30mm。
标定过程如下。如图 8所示,在第2.1节中所述试验系统中,移开基准面上全部圆柱对象并将棋盘格标定板水平放置于基准面上。水平移动标定板使得激光线投射在标定板上,且标定板中纵向棋盘格与相机像素纵坐标平行。上下移动测量支架使相机位于15个相对基准面竖直高度距离即Zm不同而水平横向距离相同的位置。在这些位置处使用工业相机拍摄标定板图像,并记录此时标定板与相机间的物距Z′。
如图 9中灰色线条所示,由于标定板上有多个激光光斑,所以该次标定采用第2.2节中的算法获取标定板图像中所有位于标定板上的激光光斑顶点像素纵坐标并计算其平均值作为像素纵坐标标定值y1。如图 10所示,在MATLAB中依据(8)式定义y1与Z′的关系式,并使用最小二乘法拟合出其中相关参量得到(9)式, 将(9)式与(6)式合并即可得出y1与Z的关系式(10)式。
如表 1所示,将y1带入(8)式中可得标定板相对参考面的竖直高度距离计算值Zx′,并将Zx′与Z′相减得到竖直高度距离标定差ΔZ。ΔZ均较小, 在±0.07mm内,同时也验证了第2.2节中的像素坐标提取算法是可行的。
Z′/mm y1/pixel Zx′/mm ΔZ/mm 428 55 428.063 0.063 441 124.5 441.016 0.016 454 190.7 454.023 0.023 467 253.4 466.993 -0.007 479 308.6 478.977 -0.023 492 365.9 492.019 0.019 504 415.9 503.935 -0.065 518 472.1 517.970 -0.030 531 521.7 530.961 -0.039 543 565.7 542.992 -0.008 554 604.5 554.022 0.022 567 648.4 567.007 0.007 579 687.5 579.051 0.051 592 727.8 591.966 -0.034 604 763.8 603.960 -0.040 Table 1. Calibration data in vertical height direction
-
水平横向标定的目的是获取x1与X之间的关系(7)式。为方便计算,本文中将(7)式中相关参量进行合并简化得到下式。依然选用图 7所示的棋盘格进行标定。
根据(12)式可知,当Z′相同时,X与Δx(即x-e/2)成比例关系, 且比值与Z′正相关。故标定过程如下,如图 11中圆圈所示,读取竖直高度标定中所采集的标定板图像里与激光线重叠的棋盘格像素长度s。并计算s与其对应的棋盘格实际水平横向长度S的比值k(本次S=270mm),亦为X与(x-e/2)的比值。
如图 12所示,根据最小二乘法拟合出k与Z′间的线性关系式(见(12)式),并依此推导出x与X之间的关系式(见(13)式)。如表 2所示,将Z′带入(13)式中可得水平横向比值计算值k′并将其与k相减得到水平横向比值标定误差Δk,Δk均较小, 在±0.0009mm/pixel内。
Z′/
mmS/
mms/
pixelk/
(mm/pixel)k′/
(mm/pixel)Δk/
(mm/pixel)428 270 938 0.2878 0.2875 -0.0003 441 270 913 0.2957 0.2955 -0.0002 454 270 888 0.3041 0.3035 -0.0006 467 270 866 0.3118 0.3115 -0.0003 479 270 848 0.3184 0.3189 0.0005 492 270 825 0.3273 0.3269 -0.0004 504 270 809 0.3337 0.3343 0.0006 518 270 788 0.3426 0.3429 0.0003 531 270 771 0.3502 0.3509 0.0007 543 270 754 0.3581 0.3583 0.0002 554 270 740 0.3649 0.3651 0.0002 567 270 724 0.3729 0.3731 0.0002 579 270 708 0.3814 0.3805 -0.0009 592 270 694 0.3890 0.3885 -0.0005 604 270 683 0.3953 0.3959 0.0006 Table 2. Calibration data in horizontal transverse direction
2.1. 实验系统设计
2.2. 图像激光光斑处理算法
2.2.1. 图像预处理算法
2.2.2. 颗粒分析顶点提取算法
2.3. 实验系统标定及顶点提取算法验证
2.3.1. 竖直高度标定
2.3.2. 水平横向标定
-
实验过程如下,在第2.1节所中述的实验系统中上下移动测量支架使相机位于10个相对基准面竖直高度距离, 即Zm不同而水平横向距离相同的位置,并在这些位置处分别使用CMOS工业相机采集位于相机下方的圆柱对象曲面反射的激光光斑图像,类似图 4所示。使用第2.2节中算法提取位于相机视场内3根直径分别为116.7mm, 123.6mm与123.8mm的圆柱形对象激光光斑顶点像素坐标(x1, y1),类似图 5与图 6所示,并将其分别带入(10)式与(13)式中计算,得到3根圆柱对象的位置坐标(X, Z)。实验中所得竖直高度位置坐标Z测量数据如表 3所示。水平横向位置坐标X测量数据如表 4所示,使用残差V1~V3作为测量误差。
Zm/mm 116.7mm cylindrical surface object 123.6mm cylindrical surface object 123.8mm cylindrical surface object actual
value/mmmeasured
value/mmerror/
mmactual
value/mmmeasured
value/mmerror/
mmactual
value/mmmeasured
value/mmerror/
mm559.00 500.65 500.61 -0.04 497.10 497.46 0.36 497.20 497.24 0.04 584.00 525.65 525.63 -0.02 522.10 521.85 -0.25 522.20 521.85 -0.35 609.00 550.65 550.36 -0.29 547.10 546.97 -0.13 547.20 546.86 -0.34 634.00 575.65 575.84 0.19 572.10 572.21 0.11 572.20 572.46 0.26 659.00 600.65 600.98 0.33 597.10 597.37 0.27 597.20 597.03 -0.17 684.50 626.15 626.54 0.39 622.60 622.52 -0.08 622.70 622.61 -0.09 709.00 650.65 650.70 0.05 647.10 647.41 0.31 647.20 646.83 -0.37 734.00 675.65 675.93 0.28 672.10 672.07 -0.03 672.20 672.00 -0.20 759.00 700.65 700.88 0.23 697.10 697.26 0.16 697.20 697.10 -0.10 784.00 725.65 725.97 0.32 722.10 722.24 0.14 722.20 721.99 -0.21 Table 3. Experimental measurement results of vertical height position coordinates Z
Zm/mm 116.7mm cylindrical object 123.6mm cylindrical object 123.8mm cylindrical object measured value X1/mm residual V1/mm measured value X2/mm residual V2/mm measured value X3/mm residual V3/mm 559.00 -81.38 0.28 35.31 0.27 158.43 -0.37 584.00 -81.35 0.31 34.73 -0.31 158.54 -0.26 609.00 -82.05 -0.39 35.35 0.31 159.14 0.34 634.00 -82.01 -0.35 34.73 -0.31 159.11 0.31 659.00 -81.86 -0.20 34.82 -0.22 158.42 -0.38 684.50 -81.83 -0.17 35.19 0.15 158.41 -0.39 709.00 -81.48 0.18 34.86 -0.18 159.19 0.39 734.00 -81.25 0.41 35.32 0.28 158.38 -0.42 759.00 -82.08 -0.42 35.27 0.23 159.14 0.34 784.00 -81.31 0.35 34.78 -0.26 159.23 0.43 Table 4. Experimental measurement results of horizontal transverse position coordinates X
-
如表 3所示,Z的最大相对测量误差为0.14%,最大绝对测量误差为±0.39mm。如表 4所示,由于X的实际值难以进行准确测量,故分别使用3个圆柱对象X测量值的平均值μ1~μ3作为实际值,使用残差V1~V3作为测量误差。经计算μ1=-81.66mm, μ2=35.04mm, μ3=158.80mm,标准差σ1=0.34mm, σ2=0.27mm, σ3=0.39mm,X最大绝对测量误差为±0.50mm,最大相对测量误差为0.89%。如图 13~图 15所示,实验中测量值X均在μi±3σi(i=1, 2, 3)内符合正态分布3σ原则。
本文中定位点测量方法的误差主要取决于顶点像素提取精度与相机标定精度。此外,根据(2)式~(6)式可知,圆柱形对象定位点水平横向位置坐标X是经其顶点竖直高度位置坐标Z′推导得出,因此Z′的计算精度对X的计算存在一定影响。因而X方向最大相对测量误差0.89%大于Z方向0.14%。