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ISSN1001-3806CN51-1125/TN 网站地图

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傅里叶/4波片双折射检测方法

索国国 汪相如 黄子强 汤镇辉 杜静

引用本文:
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傅里叶/4波片双折射检测方法

    作者简介: 索国国(1989-),男,硕士研究生,现主要从事液晶相控阵检测的研究。.
    通讯作者: 黄子强, zqhuang@188.com
  • 基金项目:

    国家自然科学基金资助项目(61405029);中央高校基本科研业务费资助项目(ZYGX2013J126)

  • 中图分类号: O734+.2

Test method for birefringence of Fourier quarter-wave-plate

    Corresponding author: HUANG Ziqiang, zqhuang@188.com ;
  • CLC number: O734+.2

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出版历程
  • 收稿日期:  2014-10-28
  • 录用日期:  2014-11-05
  • 刊出日期:  2016-01-25

傅里叶/4波片双折射检测方法

    通讯作者: 黄子强, zqhuang@188.com
    作者简介: 索国国(1989-),男,硕士研究生,现主要从事液晶相控阵检测的研究。
  • 1. 电子科技大学电子科学技术研究院, 成都 611731;
  • 2. 电子科技大学光电信息学院, 成都 610054
基金项目:  国家自然科学基金资助项目(61405029);中央高校基本科研业务费资助项目(ZYGX2013J126)

摘要: 为了对液晶光学相控阵的相位调制量进行高分辨率、高精度的自动化测量,采用了傅里叶/4波片法,在常规/4波片法的基础上,结合离散傅里叶变换算法完成数据处理过程,获得更高的测试精度,并且对测试环境的振动、噪声具备更好的抑制能力。实验中,利用微机控制步进电机、CCD等辅助设备,结合傅里叶/4波片法形成自动检测设备。结果表明,将标准/4波片作为测试样品,测试重复精度小于0.3;将自行研制的液晶光学相控阵作为待测样品,获得了其近场的相位分布,可看到样品的相位周期性与电极间相位凹陷等情况。

English Abstract

参考文献 (11)

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