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InSb光电导太赫兹源材料性质及辐射场研究

潘武 张红林 徐政珂 黄书璘

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InSb光电导太赫兹源材料性质及辐射场研究

    作者简介: 潘武(1966-),男,博士,教授,主要研究方向为光电子技术及系统、光通信器件及系统等。E-mail:panwu@cqupt.edu.cn.
  • 中图分类号: TN365

Research of characteristics of InSb photoconduction terahertz wave radiation material and its radiation field

  • CLC number: TN365

  • 摘要: 为了研究锑化铟(InSb)半导体材料光电导太赫兹辐射过程,用数值计算方法分析材料内载流子迁移率和表面电流,以及不同性质抽运激光器对太赫兹波近场强度的影响,用宏观电磁场理论和微观半导体理论分析材料表面电流,比较了InSb和GaAs材料的太赫兹波功率谱曲线。结果表明,InSb材料载流子弛豫时间越长,载流子迁移率越大;表面电流与载流子寿命和弛豫时间成正比;宏观电磁场理论更适于分析表面电流;抽运激光饱和能量密度越大,太赫兹近场辐射强度越强;抽运激光脉冲宽度越短,太赫兹近场辐射强度越强;InSb光电导辐射太赫兹波功率比GaAs高。该结果为基于InSb光电导太赫兹辐射源的研究奠定了一定的基础。
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-05-14
  • 录用日期:  2014-06-16
  • 刊出日期:  2015-07-25

InSb光电导太赫兹源材料性质及辐射场研究

    作者简介: 潘武(1966-),男,博士,教授,主要研究方向为光电子技术及系统、光通信器件及系统等。E-mail:panwu@cqupt.edu.cn
  • 1. 重庆邮电大学 光电工程学院, 重庆 400065

摘要: 为了研究锑化铟(InSb)半导体材料光电导太赫兹辐射过程,用数值计算方法分析材料内载流子迁移率和表面电流,以及不同性质抽运激光器对太赫兹波近场强度的影响,用宏观电磁场理论和微观半导体理论分析材料表面电流,比较了InSb和GaAs材料的太赫兹波功率谱曲线。结果表明,InSb材料载流子弛豫时间越长,载流子迁移率越大;表面电流与载流子寿命和弛豫时间成正比;宏观电磁场理论更适于分析表面电流;抽运激光饱和能量密度越大,太赫兹近场辐射强度越强;抽运激光脉冲宽度越短,太赫兹近场辐射强度越强;InSb光电导辐射太赫兹波功率比GaAs高。该结果为基于InSb光电导太赫兹辐射源的研究奠定了一定的基础。

English Abstract

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