不同波长激光对CCD的干扰性实验研究

张超; 张伟; 王滨; 万勇; 薛亮平; 李燕凌

doi:10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2014.06.022

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不同波长激光对CCD的干扰性实验研究

张超 , 张伟 , 王滨 , 万勇 , 薛亮平 , 李燕凌

文章导航 > 激光技术 > 2014 > 38(6): 826-829

引用本文:

Citation:

不同波长激光对CCD的干扰性实验研究

1.
中国人民解放军总参谋部四部驻成都地区军代室, 成都 610036;
2.
西南技术物理研究所, 成都 610041

作者简介: 张超(1976-),男,工程师,主要从事电子对抗的研究。E-mail:289038404@qq.com.

中图分类号:
TN249

Experimental study on interference characteristics of CCD at different laser wavelengths

1.
Military Representative Office in Chengdu, Fourth Department of the Headquarters of the General Staff, Chinese People's Liberation Army, Chengdu 610036, China;
2.
Southwest Institute of Technical Physics, Chengdu 610041, China
CLC number:
TN249

摘要: 为了对比研究激光对可见光CCD的干扰效果,采用532nm,808nm和1064nm波长的激光对同一可见光CCD进行了干扰实验。结果表明,3种波长的激光对CCD都有一定的干扰效果,由于干扰波长、干扰功率、工作方式等不一样,干扰效果也存在差异。对于脉冲式激光器,532nm激光比1064nm激光具有更低的光饱和阈值;当各波长激光输出达到一定功率时,CCD会出现饱和串音的现象。此干扰实验为更好干扰CCD成像系统提供了一定的实验依据。
- 激光技术 /
- CCD /
- 激光干扰 /
- 饱和串音
Abstract: To study the laser jamming of CCD comparatively, three lasers at wavelengths of 532nm, 808nm and 1064nm were adopted in the jamming experiments. The experiments results reveal that the jamming of three lasers to CCD is effective. However, the jamming effect is different because of the difference of the jamming wavelength, the power and the working mode. For pulsed lasers, 532nm laser has the lower light saturation threshold than 1064nm laser. When the output laser power reaches a certain value, the saturation crosstalk phenomenon occurs in a CCD. It provides an experimental basis for better jamming against CCD imaging systems.
- laser technique /
- charge coupled devices /
- laser jamming /
- saturation cross-talk

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不同波长激光对CCD的干扰性实验研究

作者简介: 张超(1976-),男,工程师,主要从事电子对抗的研究。E-mail:289038404@qq.com

1. 中国人民解放军总参谋部四部驻成都地区军代室, 成都 610036;
2. 西南技术物理研究所, 成都 610041

收稿日期: 2013-11-07
录用日期: 2013-12-09
网络出版日期: 2014-11-25

关键词:

摘要: 为了对比研究激光对可见光CCD的干扰效果,采用532nm,808nm和1064nm波长的激光对同一可见光CCD进行了干扰实验。结果表明,3种波长的激光对CCD都有一定的干扰效果,由于干扰波长、干扰功率、工作方式等不一样,干扰效果也存在差异。对于脉冲式激光器,532nm激光比1064nm激光具有更低的光饱和阈值;当各波长激光输出达到一定功率时,CCD会出现饱和串音的现象。此干扰实验为更好干扰CCD成像系统提供了一定的实验依据。