偏光干涉法测量液晶的双折射率

彭敦云; 宋连科; 栗开婷; 郭文静

doi:10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2014.03.030

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偏光干涉法测量液晶的双折射率

彭敦云 , 宋连科 , 栗开婷 , 郭文静

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引用本文:

Citation:

偏光干涉法测量液晶的双折射率

1.
山东省激光偏光与信息技术重点实验室, 曲阜 273165;
2.
曲阜师范大学激光研究所, 曲阜 273165

作者简介: 彭敦云（1988-），女，硕士研究生，现主要从事偏振光学与器件的研究。.

通讯作者: 宋连科, lksong@mail.qfnu.edu.cn ;

中图分类号: O436.3

Measurement of birefringence of liquid crystal with polarized light interference method

1.
Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Polarization and Information Technology, Qufu 273165, China;
2.
Institute of Laser Research, Qufu Normal University, Qufu 273165, China

Corresponding author: SONG Lianke, lksong@mail.qfnu.edu.cn ;

CLC number: O436.3

摘要: 为了测量液晶双折射率，从偏光干涉的理论公式入手，通过一定的近似，采用偏光干涉法测量液晶双折射率，进行了理论分析和实验验证，获得了较为理想的数据。结果表明，在采用偏光干涉法测量液晶材料的双折射率时，避免了对透射光谱的绝对光强进行测量，使得测量结果具有较高的精度。这一结果对液晶器件的设计、制作和使用是有帮助的。
- 测量与计量 /
- 液晶 /
- 电光效应 /
- 偏光干涉 /
- 双折射率
Abstract: In order to measure the liquid crystal birefringence,a simple and accurate method called polarization interferometry was used from the theoretical formula of polarized light interference and by making a certain approximation. More satisfactory data were achieved by theoretically analysis and experimental verification. The results show the use of polarized light interferometry to measure the liquid crystal material avoids the measurement of the absolute intensity of transmission spectrum, and has high accuracy. It is helpful for the design, manufacture and application of liquid crystal device.
- measurement and metrology /
- liquid crystal /
- electro-optic effect /
- polarized light interference /
- birefringence

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偏光干涉法测量液晶的双折射率

通讯作者: 宋连科, lksong@mail.qfnu.edu.cn;

作者简介: 彭敦云（1988-），女，硕士研究生，现主要从事偏振光学与器件的研究。

1. 山东省激光偏光与信息技术重点实验室, 曲阜 273165;
2. 曲阜师范大学激光研究所, 曲阜 273165

收稿日期: 2013-06-23
录用日期: 2013-08-03
网络出版日期: 2014-05-25

关键词:

摘要: 为了测量液晶双折射率，从偏光干涉的理论公式入手，通过一定的近似，采用偏光干涉法测量液晶双折射率，进行了理论分析和实验验证，获得了较为理想的数据。结果表明，在采用偏光干涉法测量液晶材料的双折射率时，避免了对透射光谱的绝对光强进行测量，使得测量结果具有较高的精度。这一结果对液晶器件的设计、制作和使用是有帮助的。