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薄膜应力激光测量方法分析

王成 马莹 张贵彦 肖孟超 甘志宏 缪同群 钱龙生

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薄膜应力激光测量方法分析

    作者简介: 王成(1977- ),男,博士研究生,现从事光学薄膜、激光技术方面的研究工作.钱龙生,通讯联系人.E-mail:cni863@public.cc.jl.cn;王成(1977- ),男,博士研究生,现从事光学薄膜、激光技术方面的研究工作.钱龙生,通讯联系人.E-mail:cni863@public.cc.jl.cn.
    通讯作者: 钱龙生, cni863@public.cc.jl.cn
  • 基金项目:

    国家八六三计划资助项目(2001AA312100)

  • 中图分类号: O484.5

Analysis of laser measurement for thin-film stress

    Corresponding author: QIAN Long-sheng, cni863@public.cc.jl.cn
  • CLC number: O484.5

  • 摘要: 总结了薄膜应力的一些测量方法.分析了利用测量基片弯曲曲率的激光宏观变形分析法———激光干涉法、激光束偏转法的理论依据及其测量原理,计算了各种测量方法的测量精度.激光干涉法的精度可达0.92%,可测量的最小应力值为15.7MPa;激光束偏转法较低,为2.12%,可测量的最小应力值为25.5MPa,空间分辨率低,约为100μm.
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出版历程
  • 收稿日期:  2003-12-31
  • 录用日期:  2004-03-01
  • 刊出日期:  2005-01-25

薄膜应力激光测量方法分析

    通讯作者: 钱龙生, cni863@public.cc.jl.cn
    作者简介: 王成(1977- ),男,博士研究生,现从事光学薄膜、激光技术方面的研究工作.钱龙生,通讯联系人.E-mail:cni863@public.cc.jl.cn;王成(1977- ),男,博士研究生,现从事光学薄膜、激光技术方面的研究工作.钱龙生,通讯联系人.E-mail:cni863@public.cc.jl.cn
  • 1. 中国科学院, 长春光学精密机械与物理研究所, 长春, 130022
基金项目:  国家八六三计划资助项目(2001AA312100)

摘要: 总结了薄膜应力的一些测量方法.分析了利用测量基片弯曲曲率的激光宏观变形分析法———激光干涉法、激光束偏转法的理论依据及其测量原理,计算了各种测量方法的测量精度.激光干涉法的精度可达0.92%,可测量的最小应力值为15.7MPa;激光束偏转法较低,为2.12%,可测量的最小应力值为25.5MPa,空间分辨率低,约为100μm.

English Abstract

参考文献 (10)

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