高灵敏度的多波长多光束干涉仪

吴宝根

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高灵敏度的多波长多光束干涉仪

吴宝根

文章导航 > 激光技术 > 1997 > 21(6): 354-357

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高灵敏度的多波长多光束干涉仪

吴宝根

1.
中国科学院力学研究所, 北京, 100080

作者简介: 吴宝根,男,1939年6月出生.副研究员.主要从事气体光学和大功率激光器光束质量的研究和测量..

High sensitivity multiple beam interferometry

Wu Baogen

1.
Institute of Mechanics, Academia Sinica, Beijing, 100080

摘要: 作者用多纵模He-Ne激光照明多光束Fabry-Perot或Fizeau干涉仪,在一个自由光谱范围内,形成与不同波长对应的子条纹,相邻条纹间的间隔代表的波长数依赖于He-Ne激光腔的光学长度npL与F-P腔长nd之比r=nd/npL.当r是整数时,不同波长对应的相邻干涉级次相互重叠,条纹间隔为λ/2且强度最大;当r是分数时,r=N/M,N,M为互质的整数,相邻条纹之间间隔为λ/2M.不难做到M=10,条纹间隔为K/20.由于多光束干涉条纹细而锐,有利于读数精度提高,可以测量λ/500的程差变化,不需内插就可以给出空间分布的足够信息.这对光学元件的高精度面形检验及低密度流场显示有实际的应用前景.给出了应用的若干例子.
- 多光束干涉 /
- 流场测量 /
- 光学元件检验
Abstract: It is shown that a Fabry Perot-interferometer with small wedge angle or a Fizeau interferometer is illuminated by a collimated multiple longitudinal mode He-Ne laser beam,the spacing of adjacent fringes depends on the ratio r=d/L ,here d and L are the length of the interferometer and laser cavity.When r is a integral,the different order fringes corresponding to different modes are overlapped and the intensity of fringe is maximum and the fringe spacing represents λ/2.When r is fraction,r=N/M,N and M are both prime numbers,the fringe spacing is corresponding to λ/M.It is easy to get M= 10 for a long cavity He-Ne laser,the interferometric sensitivity is then 10 times that of M-Z interferometer.This interferometer can be applied to examining of the optical components with high precision and the measurement of low flow field.Some applications are presented in this paper.
- multiple beam interferometer /
- flow field visualization /
- optical component test

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高灵敏度的多波长多光束干涉仪

吴宝根

作者简介: 吴宝根,男,1939年6月出生.副研究员.主要从事气体光学和大功率激光器光束质量的研究和测量.

1. 中国科学院力学研究所, 北京, 100080

收稿日期: 1996-07-13
网络出版日期: 1997-11-25

关键词:

摘要: 作者用多纵模He-Ne激光照明多光束Fabry-Perot或Fizeau干涉仪,在一个自由光谱范围内,形成与不同波长对应的子条纹,相邻条纹间的间隔代表的波长数依赖于He-Ne激光腔的光学长度npL与F-P腔长nd之比r=nd/npL.当r是整数时,不同波长对应的相邻干涉级次相互重叠,条纹间隔为λ/2且强度最大;当r是分数时,r=N/M,N,M为互质的整数,相邻条纹之间间隔为λ/2M.不难做到M=10,条纹间隔为K/20.由于多光束干涉条纹细而锐,有利于读数精度提高,可以测量λ/500的程差变化,不需内插就可以给出空间分布的足够信息.这对光学元件的高精度面形检验及低密度流场显示有实际的应用前景.给出了应用的若干例子.