电光元件检验方法的最新进展

江国驹译; 封鸿渊校

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电光元件检验方法的最新进展

江国驹译 , 封鸿渊校

文章导航 > 激光技术 > 1984 > 8(2): 13-13

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电光元件检验方法的最新进展

摘要: 在美国陆军导弹司令部的报告中,综述了光学元件检验的方法,重点是应用于金刚石加工的非球面反射镜的俭验技术。虽然该项研究的主要目的是为促进检验工作取得必需的进展而对政府应采取的首倡活动提出建议,但是,该报告内容和参考资料对关心以低成本生产电光元件的制造商也是有用的。

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