荧光效应对Nd：YAG棒端面增透膜残余反射测量的影响

张仁昌; 杨素平

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荧光效应对Nd：YAG棒端面增透膜残余反射测量的影响

张仁昌 , 杨素平

文章导航 > 激光技术 > 1983 > 7(1): 28-30

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荧光效应对Nd：YAG棒端面增透膜残余反射测量的影响

摘要: 本文讨论了自行设计的低反射率测量装置,以及用来测量固体激光工作物质,特别是Nd:YAG晶体端面增透膜时,荧光效应对测量结果的影响。分析了产生荧光效应的原因和克服的方法。给出了该装置测量Nd:YAG晶体端面增透膜残余反射的实验结果。
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