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光电成像系统的绝对光谱响应效率测量及分析

陈均溢 商思航 苗丹 江财俊 曾延安

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光电成像系统的绝对光谱响应效率测量及分析

    作者简介: 陈均溢(1995-),男,硕士研究生,现主要从事光电探测及光电成像相关领域的研究.
    通讯作者: 曾延安, zya401@hust.edu.cn
  • 中图分类号: TN247

Measurement and analysis of absolute spectral response efficiency of photoelectric imaging system

    Corresponding author: ZENG Yan'an, zya401@hust.edu.cn
  • CLC number: TN247

  • 摘要: 为了准确测量光电成像系统的绝对光谱响应效率,采用光学系统光能量传递公式以及图像传感器的物理模型,得到了光电成像系统绝对光谱响应效率的计算公式,在此基础上设计了基于积分球、多光谱发光二极管光源、标准探测器及透射式平行光管的光电成像系统绝对光谱响应效率测量装置,并对光谱响应效率已知的可见光数字相机进行实验测量和分析。结果表明,在380nm~1100nm波长范围内测量装置测得的可见光数字相机的绝对光谱响应效率与标准值具有较好的一致性,最大相对误差为1.7%,各波长点的测量不确定度在置信概率为95%时均小于0.2%,满足一般的测量要求。该装置能够准确地对光电成像系统的绝对光谱效应效率进行测量。
  • Figure 1.  Optical imaging system energy transfer

    Figure 2.  Physical model of the image sensor

    Figure 3.  Test system diagram

    Figure 4.  FDS100 standard detector

    Figure 5.  Measurement result curve

    Table 1.  Image sensor parameters

    parameter value
    optical format (1/2.5)″(4:3)
    active imager size 5.70mm×4.28mm
    active pixels 2592×1944
    pixel size 2.2μm × 2.2μm
    下载: 导出CSV

    Table 2.  Image lens parameters

    parameter value
    focal length 75mm
    maximum aperture ratio 1:2.8
    operation range 0.3m~∞
    下载: 导出CSV

    Table 3.  Spectral response efficiency measurement results

    wavelength λ/nm R (λ)/% μA(λ)/%
    380 29.52 0.141
    400 34.14 0.156
    415 37.14 0.132
    429 43.22 0.145
    455 51.27 0.167
    477 56.08 0.185
    495 59.09 0.145
    508 57.53 0.132
    521 57.17 0.117
    535 57.56 0.174
    550 55.52 0.192
    565 54.59 0.132
    580 54.12 0.147
    596 51.24 0.127
    605 50.61 0.134
    615 49.50 0.148
    625 49.51 0.120
    643 47.29 0.166
    654 46.02 0.188
    669 42.37 0.173
    685 38.67 0.160
    697 37.64 0.183
    719 36.06 0.155
    735 34.68 0.159
    748 30.82 0.179
    756 29.05 0.183
    770 24.30 0.191
    795 20.36 0.143
    825 16.83 0.156
    835 15.00 0.142
    848 13.45 0.185
    873 10.32 0.123
    890 7.42 0.133
    935 4.83 0.137
    963 3.64 0.146
    1021 1.33 0.163
    下载: 导出CSV
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出版历程
  • 收稿日期:  2019-12-30
  • 录用日期:  2020-01-22
  • 刊出日期:  2021-01-25

光电成像系统的绝对光谱响应效率测量及分析

    通讯作者: 曾延安, zya401@hust.edu.cn
    作者简介: 陈均溢(1995-),男,硕士研究生,现主要从事光电探测及光电成像相关领域的研究
  • 华中科技大学 光学与电子信息学院 光电工程系,武汉 430074

摘要: 为了准确测量光电成像系统的绝对光谱响应效率,采用光学系统光能量传递公式以及图像传感器的物理模型,得到了光电成像系统绝对光谱响应效率的计算公式,在此基础上设计了基于积分球、多光谱发光二极管光源、标准探测器及透射式平行光管的光电成像系统绝对光谱响应效率测量装置,并对光谱响应效率已知的可见光数字相机进行实验测量和分析。结果表明,在380nm~1100nm波长范围内测量装置测得的可见光数字相机的绝对光谱响应效率与标准值具有较好的一致性,最大相对误差为1.7%,各波长点的测量不确定度在置信概率为95%时均小于0.2%,满足一般的测量要求。该装置能够准确地对光电成像系统的绝对光谱效应效率进行测量。

English Abstract

    • 光电成像系统目前广泛应用于工业检测、航空航天、天文观测、医学、安防等领域,随着应用的不断深入,建立完善的光电成像系统的性能测量系统以及评价标准意义重大。光谱响应效率是光电成像系统的一项重要指标,直接影响被测目标的光度学和色度学特性[1]

      目前, 国内外光电成像系统光谱响应的测量大多采取分步进行的方式,即独立测量成像传感器的量子效率以及光学镜头的光谱透过率,再通过理论分析的方式给出系统的光谱响应效率[2-6]。而对光电成像系统光谱响应效率的直接测量研究较少,在国内尤为如此。因此,本文中基于对现有的光学成像系统中光能量传递模型和图像传感器物理模型的分析,得到了光电成像系统光能量-灰度值传递模型公式,并从中分析出了光电成像系统绝对光谱响应效率的计算公式。根据此公式设计了基于积分球、多光谱发光二极管(light-emitting diode, LED)、标准探测器和同轴透射式平行光管的光电成像系统的绝对光谱响应效率测量装置。通过对绝对光谱响应效率已知的可见光数字相机进行测量,结果证明了测量方法的正确性。

    • 对于光电成像系统绝对光谱响应效率的测量,就是给出系统不同光谱能量转换效率的曲线[7],因此需要建立外界光能量至光电成像系统输出灰度值的物理模型。

    • 光学成像系统光能量传递模型,讨论的是光能量从光学成像系统的始端(物面)到终端(像面)的传递过程,传递示意图如图 1所示。

      Figure 1.  Optical imaging system energy transfer

      根据现有摄影光学成像系统中心视场能量传递的研究[8-10],当图 1中物面为余弦辐射面时,像面处接收到的辐射照度E(λ)为:

      $E(\lambda)=\frac{\pi K(\lambda) L(\lambda)}{4}\left(\frac{D}{f}\right)^{2} \frac{\beta_{z}^{2}}{\left(\beta_{z}-\beta\right)^{2}}$

      (1)

      式中,λ为波长,K(λ)为光学系统的光谱透过率,L(λ)为物面的辐射亮度,D是系统通光口径,f为焦距,βzβ分别为系统出瞳平面和像平面位置上的垂轴放大率。

      (1) 式即为光学成像系统光能量传递公式,当给定探测物面的辐射亮度L(λ)和光学镜头的标准参量后,即可得到图像传感器表面中心辐射照度E(λ)。

      在光电成像系统中,光学镜头的焦距f与通光口径D的比值用光圈数F表征,且一般采用对称结构设计,则βz=1[10]。为方便测量,一般使成像系统对无穷远成像,则有:

      $E(\lambda)=\frac{\pi K(\lambda) L(\lambda)}{4 F^{2}}$

      (2)
    • 目前可见光近红外成像系统多以互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor, CMOS)或电荷耦合器件(charge coupled device, CCD)图像传感器作为成像器件,两者均主要由像敏阵列和集成电路组成,具有相同的物理模型,但具体实现机制不同。图像传感器可将一段曝光时间内像敏阵列接收到的光信号转换成电信号,并经过相应的信号处理电路将其转换成数字信号输出[11-12]图 2为图像传感器的物理模型示意图。

      Figure 2.  Physical model of the image sensor

      图 2所示,在一定曝光时间内,平均μp个光子经过图像传感器产生μe个电子,其转换效率即图像传感器的量子效率η(λ), 为两者的比值,可表示为:

      $\eta(\lambda)=\frac{\mu_{\mathrm{e}}}{\mu_{\mathrm{p}}}$

      (3)

      转换之后的电子被转换成电压,经过放大、A/D转换后,以数字灰度值的形式输出。根据模型分析,可得图像传感器输出灰度值与入射到图像传感器的光信号之间的关系为:

      $\mu_{y}=\mu_{y, \text { dark }}+G \eta(\lambda) \frac{\lambda A}{h c} E(\lambda) t_{\exp }$

      (4)

      式中,μy为图像传感器像素输出的灰度值; μy,dark是无光照条件下输出的暗信号,仅取决于曝光时间和温度; G为传感器的系统总增益,可通过光子转移法测得; λ为波长; A为图像传感器的像元面积; h为普朗克常数; c为光速; texp为传感器的曝光时间。

    • 结合上述理论和公式,可推导得光电成像系统对无穷远处成像时的光能量-灰度值传递公式:

      $\mu_{y}=\mu_{y, \text { dark }}+G K(\lambda) \eta(\lambda) \frac{\pi L(\lambda) \lambda A}{4 F^{2} h c} t_{\text {exp }}$

      (5)

      (5) 式是光电成像系统对无穷远目标成像的基本模型公式,表征了从无穷远处的物方至图像传感器像素输出灰度值的能量传递过程。其中,镜头的光谱透过系数K(λ)与图像传感器量子效率η(λ)的乘积即为可见光成像系统绝对光谱响应效率R(λ),则有:

      $R(\lambda)=K(\lambda) \eta(\lambda)=\frac{4 F^{2} h c\left(\mu_{y}-\mu_{y, \text { dark }}\right)}{G \lambda \pi L(\lambda) A t_{\exp }}$

      (6)
    • 根据光电成像系统绝对光谱响应测量原理,设计了由积分球、多光谱LED光源、标准探测器和同轴透射式平行光管共同构成的测量装置[13-18],装置的总体示意图如图 3所示。

      Figure 3.  Test system diagram

      图 3中,使用积分球和多光谱LED共同构成光源模块。积分球输出近似为朗伯辐射体,既可以保证测量系统光源的面均匀性,又能满足模型中物面为余弦辐射面的理论前提[19-20]。积分球直径为300mm,出口直径为40mm,出光口面均匀性高于96%。积分球的光源为多个单色LED构成光谱范围380nm~1100nm的多光谱光源,光谱范围基本涵盖常用可见光图像传感器的光谱响应范围,满足测量需求[21]

      为准确测量积分球光源在不同波长LED工作时的辐射亮度L(λ),选择光谱灵敏度已知的标准探测器FDS100。图 4a为FDS100标准探测器的光谱灵敏度曲线, 图 4b为FDS100工作测量电路。通过测量探测器测量电路中采样电阻Rl两端的电压Vr,可以准确计算当前积分球光源的辐射亮度L(λ):

      Figure 4.  FDS100 standard detector

      $L(\lambda)=\frac{V_{\mathrm{r}}}{\pi R_{1} A_{\mathrm{d}} S(\lambda)}$

      (7)

      式中,Ad为标准探测器有效探测面积,S(λ)为标准探测器光谱灵敏度。

      结合(6)式与(7)式,可得设计测量系统中被测设备绝对光谱响应效率计算公式:

      $R(\lambda)=\frac{4 F^{2} h c R_{1} A_{\mathrm{d}} S(\lambda)\left(\mu_{y}-\mu_{y, \text { dark }}\right)}{G \lambda V_{\mathrm{r}} A t_{\exp }}$

      (8)

      为满足被测光电成像系统对积分球的出光口表面为无穷远成像的要求,使用同轴透射式平行光管对输出光进行准直,将积分球出光口放置在同轴透射式平行光管焦点处。使用的平行光管的焦距为550mm,出光口径为50mm,对可见光波段透过率接近于1。

      测量时将被测光电成像系统放置在平行光管的出光口后,调焦至对无穷远成像。通过测量被测设备对不同光谱光源目标的输出灰度值,结合标准探测器输出结果和被测成像系统已知参量,代入(8)式中即可得到被测光电成像系统的绝对光谱响应效率。

    • 使用研制的测量装置,对某款性能参量已知的可见光CMOS数字相机进行绝对光谱响应效率测量,并对结果进行分析。表 1中为该可见光数字相机CMOS图像传感器参量,表 2中为成像镜头参量。

      Table 1.  Image sensor parameters

      parameter value
      optical format (1/2.5)″(4:3)
      active imager size 5.70mm×4.28mm
      active pixels 2592×1944
      pixel size 2.2μm × 2.2μm

      Table 2.  Image lens parameters

      parameter value
      focal length 75mm
      maximum aperture ratio 1:2.8
      operation range 0.3m~∞

      在暗室环境下,设置被测可见光数字相机曝光时间为10ms,利用所研制的测量装置测量被测设备在不同波长光源情况下的灰度值和标准探测器的输出值,计算得到被测设备的绝对光谱响应效率R(λ)。表 3中为被测可见光数字相机的绝对光谱响应效率测量结果。其中绝对光谱响应效率测量值为各个波长测量点测量5次的平均值,并给出了各波长测量点在置信概率为95%时的A类不确定度μA(λ)。为验证测量结果的准确性,将测量结果与被测设备光谱响应效率标准值进行比较,并将曲线共同绘于图 5中。

      Table 3.  Spectral response efficiency measurement results

      wavelength λ/nm R (λ)/% μA(λ)/%
      380 29.52 0.141
      400 34.14 0.156
      415 37.14 0.132
      429 43.22 0.145
      455 51.27 0.167
      477 56.08 0.185
      495 59.09 0.145
      508 57.53 0.132
      521 57.17 0.117
      535 57.56 0.174
      550 55.52 0.192
      565 54.59 0.132
      580 54.12 0.147
      596 51.24 0.127
      605 50.61 0.134
      615 49.50 0.148
      625 49.51 0.120
      643 47.29 0.166
      654 46.02 0.188
      669 42.37 0.173
      685 38.67 0.160
      697 37.64 0.183
      719 36.06 0.155
      735 34.68 0.159
      748 30.82 0.179
      756 29.05 0.183
      770 24.30 0.191
      795 20.36 0.143
      825 16.83 0.156
      835 15.00 0.142
      848 13.45 0.185
      873 10.32 0.123
      890 7.42 0.133
      935 4.83 0.137
      963 3.64 0.146
      1021 1.33 0.163

      Figure 5.  Measurement result curve

      表 3中数据及图 5中曲线可以看出:各个波长测量点在多次测量时,其A类不确定度在置信概率95%时均小于0.2%,测量平均值与标准值之间的最大相对误差为1.7%,表明测量装置具有较好的稳定性,测得的可见光数字相机的绝对光谱响应效率与标准值一致性较好。

    • 在分析光学成像系统光能量传递模型和图像传感器物理模型的基础上,得到了光电成像系统光能量-灰度值传递公式以及绝对光谱响应效率的计算公式。并设计了基于积分球、多光谱LED光源、标准探测器和同轴透射式平行光管的可见光成像系统绝对光谱响应效率测量装置。利用此装置对性能参量已知的可见光数字相机进行了测量和分析。结果表明,测量装置测得的可见光数字相机的绝对光谱响应效率与标准值具有较好的一致性,最大相对误差为1.7%,各波长点的测量不确定度在置信概率为95%时均小于0.2%,能够准确对光电成像系统的绝对光谱效应效率进行测量。

参考文献 (21)

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